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tem（Transmission Electron Microscopy）是一種用于觀察和分析納米級(jí)別材料結(jié)構(gòu)的電子顯微技術(shù)。它通過將樣品置于電子束中，以獲得高分辨率的成像，從而揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)。由于其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，tem在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中扮演著至關(guān)重要的角色。